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激光拉曼光譜

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產(chǎn)品型號(hào):NANO Raman

品       牌:HORIBA

廠商性質(zhì):生產(chǎn)商

所  在  地:上海市

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更新時(shí)間:2022-06-27 08:57:54瀏覽次數(shù):669次

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HORIBA NANO Raman激光拉曼光譜:隨著掃描探針顯微鏡(SPM)在二十世紀(jì)八十年代的出現(xiàn),大氣環(huán)境中的納米尺度成像成為了可能。該技術(shù)使材料表面各種物理特性的表征得以快速持續(xù)的發(fā)展,然而如何實(shí)現(xiàn)納米尺度的的化學(xué)結(jié)構(gòu)表征仍是一項(xiàng)挑戰(zhàn)。

 

隨著掃描探針顯微鏡(SPM)在二十世紀(jì)八十年代的出現(xiàn),大氣環(huán)境中的納米尺度成像成為了可能。該技術(shù)使材料表面各種物理特性的表征得以快速持續(xù)的發(fā)展,然而如何實(shí)現(xiàn)納米尺度的的化學(xué)結(jié)構(gòu)表征仍是一項(xiàng)挑戰(zhàn)。

拉曼光譜為分子結(jié)構(gòu)和化學(xué)組分分析提供了有效的解決方案,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)和生命科學(xué)領(lǐng)域。但是這種方法的空間分辨率在很大程度上受限于光學(xué)衍射限。

因此,將這兩種技術(shù)結(jié)合是富吸引力和挑戰(zhàn)性的,我們進(jìn)入納米光學(xué)的世界。在該領(lǐng)域,HORIBA Scientific 通過幾十年的經(jīng)驗(yàn)積累和努力,開發(fā)了一套 HORIBA NANO Raman 的整體解決方案,使其成為一個(gè)通用且功能強(qiáng)大、使用簡便、快速可靠的分析工具。


HORIBA NANO Raman激光拉曼光譜

 

一、重要特征

 

1、多種樣品分析平臺(tái)

高分辨樣品掃描器,掃描樣品面積從納米尺寸至樣品臺(tái)限

 

2、簡便易操作

全自動(dòng)操作,大縮短了測試時(shí)間

 

3、真共聚焦

高空間分辨率,自動(dòng)成像平臺(tái),多種顯微鏡可視觀察系統(tǒng)

 

4、高靈敏度

多只有三面反射鏡,靈敏度和光通量得到大提高,提高設(shè)備穩(wěn)定性

 

5、高光譜分辨率

多光柵自動(dòng)切換,寬的光譜范圍用于拉曼和 PL 測試

 

6、納米尺度空間分辨率

通過針尖增加拉曼光譜 (TERS) 成像,實(shí)現(xiàn) 10nm 的空間分辨率

 

7、多種測試模式 / 多種環(huán)境

多種 SPM 模式,包括 AFM、導(dǎo)電 AFM、開爾文、STM 模式,可以子在液體和電化學(xué)環(huán)境下測試,通過 TERS 和 TEPL 技術(shù),可同時(shí)獲得化學(xué)信息成像通過一臺(tái)電腦即可控制及使所有功能。另外,SPM和光譜儀也可以單獨(dú)控制使用

 

8、穩(wěn)定性

采用新一代 50 KHz 高頻調(diào)制 SPM 掃描器,遠(yuǎn)離生活噪聲,具有高信噪比和穩(wěn)定性

 

9、靈活性

具有頂部、底部、側(cè)向等多個(gè)方向拉曼探測能力,滿足各方面應(yīng)用研究需求

 

 

 

二、強(qiáng)有力的的物理、化學(xué)結(jié)構(gòu)表征工具

 

HORIBA NANO Raman激光拉曼光譜功能強(qiáng)大

· 可同時(shí)進(jìn)行 SPM 和拉曼光譜測試

· 頂部和側(cè)向均可使用高數(shù)值孔徑 ×100 物鏡,使得同區(qū)域測量能獲得更高的空間分辨率,針尖增強(qiáng)拉曼 (TERS) 具有高的信號(hào)收集效率

· 通過 SWIFT XS 和 EMCCD 探測器可以實(shí)現(xiàn)高通量信號(hào)收集能力和快速掃描速度

· 寬光譜范圍:從深紫外到近紅外

· 可選配 HORIBA 拉曼光譜儀系統(tǒng)以獲得高光譜性能

 

2、操作簡單、快速!

· 一鍵完成“懸臂梁 - 參考激光”對(duì)準(zhǔn)及調(diào)諧頻率優(yōu)化,無需手動(dòng)調(diào)整

· 換針尖時(shí)無需移動(dòng)樣品,換完針尖后還能很容易回到原來樣品位置

· 通過物鏡掃描器自動(dòng)完成拉曼激光與 TERS 針尖耦合

· 通過一臺(tái)電腦即可*控制

 

 

三、操作簡單的TERS系統(tǒng)

 

1、穩(wěn)定的 AFM-TERS 針尖

拉曼和掃描探針顯微鏡可以偶聯(lián)成為一套系統(tǒng),同Omni TM 型號(hào)的 TERS 探針,可同時(shí)獲取樣品表面形貌和 TERS 光譜。

HORIBA NanoRaman 系統(tǒng)結(jié)合 Omni TM 的 TERS 針尖提供了理想的增強(qiáng)方案。

 

· 適用不同方向的 TERS 耦合 : 頂部、側(cè)向和底部

· 多層結(jié)構(gòu):針尖優(yōu)化小化的減少硅襯底中光譜干擾

· 惰性氣體包裝延長針尖的使用壽命

· 具有特殊保護(hù)層的 Ag 針尖能夠防止大氣環(huán)境下氧化

 

2、如何實(shí)現(xiàn) TERS

在 TERS 系統(tǒng),拉曼激光1聚焦到鍍有金或銀的針尖尖頭2,選擇合適的激發(fā)波長,在針尖十幾納米附近產(chǎn)生局域等離子體共振效應(yīng)3,拉曼信號(hào)強(qiáng)度和局域電場成正比,增強(qiáng)的熱點(diǎn)和樣品接近就會(huì)大地增強(qiáng)樣品的拉曼信號(hào),達(dá)到 105 或者 106 4。

 

3、什么是同區(qū)域成像

拉曼和掃描探針顯微鏡可以偶聯(lián)成為一套系統(tǒng),同區(qū)域成像測試是在同一個(gè)區(qū)域內(nèi)同時(shí)或者連續(xù)獲得 AFM 圖和拉曼成像圖。

AFM 和其他的 SPM 技術(shù)如 STM, 音叉模式(正交力和剪切力)可以提供表面形貌,力學(xué)性能,熱學(xué)性能,電學(xué)和磁學(xué)性能以及分子分辨率測試,另一方面共焦拉曼光譜和成像提供材料的化學(xué)信息,受到空間分辨率的限制。

 

4、可驗(yàn)證的 TERS 樣品

HORIBA 提供一系列的測試樣品包括單壁碳納米管和氧化石墨烯,適當(dāng)?shù)姆稚⒖梢宰?TERS 成像。樣品用來展示 AFM 的分子分辨率,通過 TERS成像展示 20 nm 的空間分辨率。

 

 

四、集成化軟件——一個(gè)軟件控制 HORIBA NANO Raman的數(shù)據(jù)采集

 

· 集成化軟件:一個(gè)軟件即可控制 HORIBA NANO Raman 整個(gè)平臺(tái)(包括單獨(dú)AFM、拉曼、光致發(fā)光、同區(qū)域成像測試和 TERS)

· 強(qiáng)大的 Labspec6 軟件:集成多變量分析模塊,一鍵完成PCA,MCR,HCA,DCA 分析

·  Spec-top 成像模式:Spec-top為*的輕敲模式,根據(jù)設(shè)置的步進(jìn)輕敲樣品,這樣既保留了針尖的尖銳度,也提高了 TERS 信號(hào)的放大倍數(shù)。

· Dual-spec 模式:Dual-spec 可以同時(shí)獲得近場增強(qiáng)信號(hào)和遠(yuǎn)場拉曼信號(hào),基于差譜的方法扣除遠(yuǎn)場拉曼信號(hào),獲得高空間分辨率的 TERS 成像圖

多變量分析:全矩形掃描區(qū)域會(huì)消耗大量時(shí)間,可以在 AFM 圖上選擇不規(guī)則區(qū)域來做成像

· 曲線圖:力曲線測試反映材料的硬度或者吸附力分布,力學(xué)常數(shù)

 

 

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